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Applied RHEED

Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth, Springer Trac

Erschienen am 01.12.2013, Auflage: 1. Auflage
CHF 68,90
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783662156148
Sprache: Englisch

Autorenportrait

InhaltsangabeMBE-grown semiconductor interfaces.- Reflection high-energy electron diffraction (RHEED).- RHEED oscillations.- Semikinematical simulations of RHEED patterns.- Kikuchi lines.- RHEED with rotating substrates.- Reconstruction-induced phase shifts of RHEED oscillations.- Energy loss spectroscopy during growth.- Phase shifts: Models.- Applications of reconstruction-induced phase shifts.- Closing remarks.

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